Материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления пользователям Интернета и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав.
© 2018 - 2024
А) остается неизменной.
В) увеличивается.
С) уменьшается.
Экспериментально коэффициент прозрачности по энергии границы преобразователь - контролируемый материал может быть оценен как разность амплитуд эхо-сигналов в контролируемом материале и в стандартном образце от отражателей:
А) одного и того же вида.
В) любого вида на одной и той же глубине.
С) одного и того же вида,расположенных на одной и той же глубине.
73. Формула перевода относительных единиц измерения амплитуд U1 и U2 двух сигналов в децибелы имеет вид:
А) N = 10 * lg (U1 / U2).
В) N = 20 * 1g (U1 / U2).
С) N = 20 * 1n (U1 / U2).
Принцип измерения координат отражателя при эхо-методе состоит в:
А) измерении сдвига максимума спектра отраженного от дефекта сигнала и пересчете его в координату.
В) измерении временного интервала от зондирующего до эхо-сигнала и пересчете его в координату.
С) анализе расхождения пучка на пути от излучателя до отражателя.
При измерении координат дефекта наклонным преобразователем в совмещенном режиме время распространения волны в призме:
А) необходимо учесть один раз.
В) необходимо учесть два раза.
А) учитывать не надо.
Мерой эквивалентной площади дефекта служит размер:
А) бокового цилиндрического отверстия.
В) бесконечной плоскости.
С) диска.
77. Прямым преобразователем озвучиваются два дефекта одинакового размера плоскостной формы, ориентированные перпендикулярно акустической оси и залегающие на одной глубине. Первый дефект имеет зеркально - отражающую поверхность, второй - диффузную. Эквивалентные площади Sэ дефектов соотносятся:
А) Sэ1 > Sэ2.
В) Sэ1 < Sэ2.
С) Sэ1 = Sэ2.
Условный размер дефекта (dx, dH, dL), измеренный по уровню фиксации абсолютным способом, как правило:
А) больше истинного размера дефекта.
В) меньше истинного размера дефекта.
С) равен истинному размеру дефекта.
79. Три округлых отражателя залегают на одной глубине, причем их размеры соотносятся следующим образом: b1 > b2 > b3. В этом случае при измерении условной ширины dX относительным способом выполняется:
А) dX1 > dX2 > dX3.
В) dX1 < dX2 < dX3.
С) dX1 = dX2 = dX3.
Компактным дефектом называют дефект, условная протяженность dLд которого соотносится с условной протяженностью ненаправленного отражателя dLo, расположенного на той же глубине, что и дефект:
А) dLд <= dLo.
В) dLд = dLo.
С) dLд > dLo.
81. Коэффициент формы Кф дефекта измеряют при включении преобразователей по:
А) совмещенной схеме.
В) схеме - дуэт.
С) тандем - схеме.
Д) совмещенной и тандем - схеме.
Дефект имеет плоскостную форму, если для его коэффициента формы Кф выполняется:
А) Кф > 1.
В) Кф > 0.
С) Кф < 1.
Коэффициент формы Кф дефекта информативен:
А) при любой толщине контролируемого изделия.
В) если толщина контролируемого изделия больше 40 мм.
С) если толщина контролируемого изделия больше 10 мм.
При измерении углового размера дефекта в сварном шве смещение преобразователя в широких пределах практически не влияет на амплитуду эхо-сигнала. Это означает, что:
А) дефект имеет округлую форму в плане соединения.
В) дефект протяженный плоскостной.
С) дефект имеет округлую форму в сечении изделия.
85. Можно ли идентифицировать эхо-сигнал от валика усиления сварного шва путем "пальпирования" пальцем:
А) Да, в любом случае.
В) Нет, в любом случае.
С) Да, в случае перпендикулярного падения поперечной волны на по верхность валика.
Д) Да, в случае неперпендикулярного падения волны на поверхность валика.
При контроле цилиндрического вала диаметром 500 мм ультразвук направили по диаметру. Данный сигнал в этом случае по сравнению с данным сигналом от плоской донной поверхности будет:
А) больше.
В) меньше.
С) одинаковый
Амплитуда первого донного эхо-сигнала при отсутствии дефекта в 5 раз больше амплитуды того же донного эхо-сигнала при наличии дефекта. Это значит, что коэффициент выявляемости дефекта Кд:
А) Кд = 0,2.
В) Кд = 0,5.
С) Кд = 0,8.
Дата: 2019-05-28, просмотров: 2064.