f ( x ) - функция преобразования измерительного преобразователя;

Y - значение меры;

f _sf ( x ) - номинальная функция преобразования измерительного преобразователя;

Y_sf - номинальное значение меры;

D - погрешность конкретного экземпляра средства измерений;

D _s - систематическая составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

- случайная составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

D _р - предел допускаемой погрешности средств измерений данного типа;

D _{s р} - предел допускаемой систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

М [ D _s ] - математическое ожидание систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

s [ D _s ] - среднее квадратическое отклонение систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

s [ ] - среднее квадратическое отклонение случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

s _p [ ] - предел допускаемого среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности средств измерений данного типа;

r ( t ) - нормализованная (выраженная в долях дисперсии) автокорреляционная функция случайной составляющей погрешности средства измерений;

S ( w ) - спектральная плотность случайной составляющей погрешности средства измерений;

М [ D ] - математическое ожидание погрешности средств измерений данного типа;

s [ D ] - среднее квадратическое отклонение погрешности средств измерений данного типа;

- среднее значений погрешности средства измерений в точке х диапазона измерений, полученных экспериментально при медленных непрерывных изменениях информативного параметра входного сигнала при подходах со стороны меньших значений;

- среднее значений погрешности средства измерений в точке х диапазона измерений, полученных экспериментально при медленных непрерывных изменениях информативного параметра входного сигнала при подходах со стороны больших значений;

_H случайная составляющая погрешности конкретного экземпляра средства измерений от гистерезиса;

Н - вариация выходного сигнала конкретного экземпляра средства измерений;

H _p - предел допускаемой вариации выходного сигнала средств измерений данного типа;

y ( x ) - функция влияния влияющей величины x ;

y _sf ( x ) - номинальная функция влияния;

y _* ( x ) - граничная функция влияния (нижняя);

y ^* ( x ) - граничная функция влияния (верхняя);

e ( x ) - изменение метрологической характеристики конкретного экземпляра средства измерений, вызванное изменением влияющей величины x ;

e _р ( x ) - наибольшее допускаемое изменение метрологической характеристики средства измерений данного типа, вызванное изменениями влияющей величины x ;

h ( t ) - переходная характеристика средства измерений;

g ( t ) - импульсная переходная характеристика средства измерений;

G ( j w ) - амплитудно-фазовая характеристика средства измерений;

A ( w ) - амплитудно-частотная характеристика средства измерений;

G ( S ) - передаточная функция средства измерений;

t _r - время реакции средства измерений;

t _d - погрешность датирования отсчета АЦП или ЦИП;

А ( w ₀ ) - значение амплитудно-частотной характеристики средства измерений на резонансной частоте;

g _dam - коэффициент демпфирования средства измерений;

Т - постоянная времени средства измерений;

w ₀ - значение резонансной круговой частоты средства измерений;

f _max ^- максимальная частота (скорость) измерений;

- оценка систематической погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

- оценка систематической составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений, обладающего гистерезисом;

[ D _s ] - оценка математического ожидания систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

[ D ] - оценка математического ожидания погрешности средств измерений данного типа;

[ D _s ] - оценка среднего квадратического отклонения систематической составляющей погрешности средств измерений данного типа;

[ ] - оценка среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

[ ] - оценка среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений, обладающего гистерезисом;

[ D ] - оценка среднего квадратического отклонения погрешности средств измерений данного типа;

- оценка вариации выходного сигнала конкретного экземпляра средства измерений;

( t ) - оценка нормализованной автокорреляционной функции случайной составляющей погрешности конкретного экземпляра средства измерений;

х - измеряемая величина (информативный параметр входного сигнала);

x - влияющая величина;

x _ref - нормальное значение влияющей величины.

СОДЕРЖАНИЕ

2. Номенклатура метрологических характеристик . 2

3. Способы нормирования метрологических характеристик . 4

4. Формы представления нормированных метрологических характеристик . 7

Приложение 1 обязательное Комплексы mx, нормируемых в нтд на средства измерений конкретных типов . 8

Приложение 2 обязательное Математические определения статистических характеристик погрешности средств измерений . 20

Приложение 3 справочное Пояснения терминов, используемых в настоящем стандарте . 23

Приложение 4 справочное Полные динамические характеристики . 27

Приложение 5 справочное Примеры нормирования mx .. 28

Приложение 6 справочное Обозначения, принятые в настоящем стандарте . 28

Еще документы скачать бесплатно

• ГОСТ 14.322-83 Нормирование расхода материалов. Основные положения
• ВСН 422-86 Нормирование потребности в покупном металлорежущем инструменте для организаций Минмонтажспецстроя СССР
• ГОСТ 8.292-84 Государственная система обеспечения единства измерений. Кондуктометры жидкости лабораторные. Методика поверки
• ГОСТ 19875-79 Приборы электроизмерительные самопишущие быстродействующие. Общие технические условия
• ГОСТ 8.354-85 Государственная система обеспечения единства измерений. Анализаторы жидкости кондуктометрические. Методика поверки
• ГОСТ 2789-73 Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики